本文作者：倪园婷；邹建男；蔡毓杰；叶永汉；冯勇建；成功正常投稿发表论文到《厦门大学学报(自然科学版)》2014年06期,引用请注明来源400期刊网！

【摘要】：针对集成电路高温下工作失效的问题,运用零温度系数栅偏置电压理论和漏电流补偿法,设计出一种电源电压为3.5~5.5V,室温190℃有效,温度系数为1.5×10-6V/℃的高精度带隙基准电路.此带隙基准设计方法有别于常用的以精确匹配电阻和高阶反馈获得低温漂的方法,但同样具有宽电压、低温漂、工艺角稳定等性能,优点是能在高温条件下工作,解决了目前绝大多数带隙基准高精度有效工作温度不超过150℃的问题.
【论文正文预览】：随着科学技术和工业生产的发展,对设备的使用温度提出了越来越高的要求,常常要求检测和控制设备能在超过室温数倍的高温状态下运行.由于半导体固有的温敏特性,普通的微电子器件在高温下会发生性能劣化甚至失效.为了解决微电子器件高温下失效的问题,最直接的方法是采用冷却装置
【文章分类号】：TN432
【稿件关键词】：集成电路高温带隙基准
【参考文献】:

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【稿件标题】：【带隙基准】一种高温高精度带隙基准设计
【作者单位】：厦门大学物理与机电工程学院;
【发表期刊期数】：《厦门大学学报(自然科学版)》2014年06期
【期刊简介】：0......更多厦门大学学报(自然科学版)杂志社(http://www.400qikan.com/qk/9552/)投稿信息
【版权所有人】：倪园婷；邹建男；蔡毓杰；叶永汉；冯勇建；

更多自然类论文详细信息: 【带隙基准】一种高温高精度带隙基准设计
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